A probabilistic hit-and-miss transform for face localization

  1. Raducanu, B.
  2. Graña, M.
  3. Albizuri, F.X.
  4. D'Anjou, A.
Aldizkaria:
Pattern Analysis and Applications

ISSN: 1433-7541

Argitalpen urtea: 2004

Alea: 7

Zenbakia: 2

Orrialdeak: 117-127

Mota: Artikulua

DOI: 10.1007/S10044-004-0207-4 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus