Critical behavior near the Lifshitz point in Sn2P 2(S1-xSex)6 ferroelectric semiconductors from thermal diffusivity measurements

  1. Oleaga, A.
  2. Salazar, A.
  3. Kohutych, A.A.
  4. Vysochanskii, Yu.M.
Revista:
Journal of Physics Condensed Matter

ISSN: 0953-8984 1361-648X

Año de publicación: 2011

Volumen: 23

Número: 2

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0953-8984/23/2/025902 GOOGLE SCHOLAR