Critical behavior near the Lifshitz point in Sn2P 2(S1-xSex)6 ferroelectric semiconductors from thermal diffusivity measurements
- Oleaga, A.
- Salazar, A.
- Kohutych, A.A.
- Vysochanskii, Yu.M.
ISSN: 0953-8984, 1361-648X
Año de publicación: 2011
Volumen: 23
Número: 2
Tipo: Artículo