Positron annihilation spectroscopy for the determination of thickness and defect profile in thin semiconductor layers

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Revista:
Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

ISSN: 1098-0121,  1550-235X

Año de publicación: 2007

Volumen: 75

Número: 20

Tipo: Artículo

DOI: 10.1103/PHYSREVB.75.205305 GOOGLE SCHOLAR
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