Quantitative analysis of stress-induced martensites by in situ transmission electron microscopy superelastic tests in Cu-Al-Ni shape memory alloys
- Nó, M.L.
- Ibarra, A.
- Caillard, D.
- San Juan, J.
ISSN: 1359-6454
Año de publicación: 2010
Volumen: 58
Número: 18
Páginas: 6181-6193
Tipo: Artículo