Quantitative analysis of stress-induced martensites by in situ transmission electron microscopy superelastic tests in Cu-Al-Ni shape memory alloys
- Nó, M.L.
- Ibarra, A.
- Caillard, D.
- San Juan, J.
ISSN: 1359-6454
Datum der Publikation: 2010
Ausgabe: 58
Nummer: 18
Seiten: 6181-6193
Art: Artikel