Improved CAD oriented FET model for large-signal and noise applications

  1. Portilla, J.
  2. Quere, R.
  3. Obregon, J.
Actas:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

ISSN: 0149-645X

ISBN: 0780317793

Año de publicación: 1994

Volumen: 2

Páginas: 849-852

Tipo: Aportación congreso