Thermal creation of defects in GaTe

  1. Zubiaga, A.
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Revista:
Japanese Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-4922 1347-4065

Año de publicación: 2008

Volumen: 47

Número: 12

Páginas: 8719-8722

Tipo: Artículo

DOI: 10.1143/JJAP.47.8719 GOOGLE SCHOLAR