Advanced test of analog ICsoscillation-based and predictive test

Resumen

Esta tesis gira en torno a test de circuitos analógicos. En la primera parte se han diseñado cuatro sensores integrados para testear amplificadores operacionales (OTA). La estrategia utilizada (DBT) consiste en introducir fallos catastróficos en el OTA para observar cómo responde nuestro observable de test que nos dirá si podemos detectar los fallos inyectados. El primer sensor mide el sobrepico de la respuesta a un escalón y los tres restantes el pico de la corriente de consumo después de configurar el OTA como oscilador. En la segunda parte se ha diseñado un filtro paso-banda que puede auto-calibrar su frecuencia central a través de la metodología de test predictivo. En lugar de medir directamente la frecuencia central, como lo haría un test funcional, se configura el filtro como un oscilador no lineal, se mide su frecuencia de oscilación y a partir de métodos de regresión estadísticos se predice la frecuencia central deseada.