Relevance of length scales in exchange biased submicron dots

  1. Li, Z.-P.
  2. Morales, R.
  3. Schuller, I.K.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 2009

Volumen: 94

Número: 14

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.3114372 GOOGLE SCHOLAR

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