Magnetization depth dependence in exchange biased thin films
- Morales, R.
- Li, Z.-P.
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- Schuller, I.K.
- Olamit, J.
- Liu, K.
Revista:
Applied Physics Letters
ISSN: 0003-6951
Año de publicación: 2006
Volumen: 89
Número: 7
Tipo: Artículo