Ab initio simulation of helium-ion microscopy images: The case of suspended graphene

  1. Zhang, H.
  2. Miyamoto, Y.
  3. Rubio, A.
Zeitschrift:
Physical Review Letters

ISSN: 0031-9007,  1079-7114

Datum der Publikation: 2012

Ausgabe: 109

Nummer: 26

Art: Artikel

DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.109.265505 GOOGLE SCHOLAR

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