Contrast inversion in electrostatic force microscopy imaging of trapped charges: Tip-sample distance and dielectric constant dependence
- Riedel, C.
- Alegría, A.
- Arinero, R.
- Colmenero, J.
- Sáenz, J.J.
ISSN: 0957-4484, 1361-6528
Datum der Publikation: 2011
Ausgabe: 22
Nummer: 34
Art: Artikel