A simulation-based method for the comprehensive analysis of effective lifetime from photoconductance
ISSN: 1062-7995, 1099-159X
Datum der Publikation: 2007
Ausgabe: 15
Nummer: 2
Seiten: 123-142
Art: Artikel
ISSN: 1062-7995, 1099-159X
Datum der Publikation: 2007
Ausgabe: 15
Nummer: 2
Seiten: 123-142
Art: Artikel