Stress-induced phase transformations studied by in-situ transmission electron microscopy
- Nó, M.L.
- Ibarra, A.
- Caillard, D.
- San Juan, J.
ISSN: 1742-6596, 1742-6588
Année de publication: 2010
Volumen: 240
Type: Communication dans un congrès
ISSN: 1742-6596, 1742-6588
Année de publication: 2010
Volumen: 240
Type: Communication dans un congrès