Origen y estabilidad de la mutación x frágil en población vasca

  1. PEÑAGARIKANO AHEDO, OLGA
Dirigée par:
  1. Isabel Arrieta Sáez Directeur/trice

Université de défendre: Universidad del País Vasco - Euskal Herriko Unibertsitatea

Fecha de defensa: 28 novembre 2003

Jury:
  1. Jose Luis Mensua Fernandez President
  2. Carlos Lostao Zuza Secrétaire
  3. Félix Prieto García Rapporteur
  4. Rosa Frutos Illan Rapporteur
  5. Pietro Chiurazzi Rapporteur

Type: Thèses

Teseo: 103611 DIALNET

Résumé

El síndrome X frágil es la forma más común de retraso mental hereditario. Está principalmente causado por la expansión de una repetición trinucleotídica (CGG) en la región 5'UTR del gen FMR1, localizando en el cromosoma X. Se han identificado diversos factores que influyen en la expansión de la repetición, tales como la longitud de la misma, su pureza y su asociación con determinados marcadores flanqueantes. Por tanto, la prevalencia de determinados alelos potencialmente inestables en una población puede afectar la incidencia de la enfermedad. El presente estudio muestra el análisis de los factores, conocidos hasta la fecha, que influyen en la expansión de la consecuencia repetitiva en una muestra de población vasca. Además, se han analizado muestras de diferente origne étnico con el objetivo de aportar una visión evolutiva de los factores moleculares que influyen en la generación de alelos inestables.