Detección y análisis de grietas en sustratos de silicio cristalino originadas en líneas industriales de fabricación de células solares

  1. Cereceda Moris, Eneko
Dirigée par:
  1. José Rubén Gutiérrez Serrano Directeur/trice

Université de défendre: Universidad del País Vasco - Euskal Herriko Unibertsitatea

Fecha de defensa: 06 novembre 2015

Jury:
  1. Juan Carlos Jimeno Cuesta President
  2. Maria Velia Rodriguez Cuesta Secrétaire
  3. Jesus Alonso Reviejo Rapporteur
  4. Gustavo Nofuentes Garrido Rapporteur
  5. Alberto Fraile Rapporteur
Département:
  1. Tecnología Electrónica

Type: Thèses

Teseo: 120419 DIALNET lock_openADDI editor

Résumé

Siendo la oblea de silicio cristalino uno de los elementos m¿s costosos de los paneles fotovoltaicos, el objetivo de esta tesis es comprender el proceso de fractura de las obleas de silicio cristalino en las l¿neas de fabricaci¿n de c¿lulas solares fotovoltaicas y establecer las acciones necesarias para reducir el ¿ndice de roturas en estas l¿neas.Para ello, se ha estudiado el proceso de la fractura fr¿gil, y se ha analizado una l¿nea de fabricaci¿n de c¿lulas solares est¿ndar. De esta forma se han detectado, no s¿lo los puntos cr¿ticos donde se produce un mayor n¿mero de roturas, sino tambi¿n aquellos donde se generan las grietas que posteriormente conducir¿n a la fractura de la oblea.Se han analizado diferentes t¿cnicas para detectar grietas en las obleas y poder retirarlas del proceso productivo antes de que se produzca su rotura y genere costes adicionales. Por ¿ltimo se ha estudiado el deterioro mec¿nico que produce la generaci¿n de una estructura de c¿lula de contactos posteriores en una oblea de silicio y diversas t¿cnicas para la reducci¿n del deterioro generado